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LWIR系列激光光束光斑分析儀技術參數-圖片-應用-報價

LWIR系列激光光束光斑分析儀技術參數-圖片-應用-報價

產品簡介:松盛光電自主研發的光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案,并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計,配套衰減方案設計,支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器,固體激光器,光纖激光器,超快激光器,激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣,性價比很高,得到大量客戶認同?,F公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。
  • 技術數據
  • 應用白皮書

    Beamfiler LWIR系列光斑分析儀是長波紅外范圍內激光器光斑檢測方案。Beamfiler LWIR系列光斑探測相機擁有17微米的像素、8 μm-14μm的波長范圍和一個集成快門,具有無可比擬的光束擴展能力。此款相機具有非常高的靈敏度,集成的快門可以進行全自動的非均勻性校正。

    LWIR系列激光光束光斑分析儀產品圖片

    LWIR系列激光光束光斑分析儀產品特點:

     

    1.可測量激光光斑形態,具有豐富的圖像處理功能。

     

    2.波長響應8 μm-14μm

     

    3.像素大小17 μm, 集成式快門

     

    4.數據接口GigaEthernet

     

    LWIR系列激光光束光斑分析儀典型應用:

     

    1.LWIR/CO2激光輪廓分析

     

    2.產品質量監控

     

    3.現場分析CO2激光器和激光系統

     

    4.光學組裝和儀器對準

     

    5.光束漂移記錄

     

    6.高分辨率紅外成像

    LWIR系列激光光束光斑分析儀產品型號:

    相機型號 

    波長 

    像素 

    (μm 

    分辨率 

    靶面尺寸
    mm 

    光斑檢測大小 

    Px

    Py

    Dx

    Dy

    MIN

    (μm 

    MAXmm 

    BFL1705G

    8µ-14µm 

    17

    400

    300

    6.8

    5.1

    170.0

    4.3

    BFL1708G

    8µ-14µm 

    17

    640

    512

    10.9

    8.7

    170.0

    7.4

    光束光斑分析儀簡介

     

    松盛光電自主研發的光束光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案,并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計,配套衰減方案設計,支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器,固體激光器,光纖激光器,超快激光器,激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣,性價比很高,得到大量客戶認同?,F公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。

     

    光束光斑分析儀產品特點:

     

    1. 可選超寬光譜多波長系列產品,覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。

     

    2. 較寬的光斑直徑測量范圍:光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍,部分產品支持更小光斑拓展。

     

    3. 光斑分析儀一體化設計,配套衰減方案設計:設備自帶吸收衰減裝置,測低功率的毫瓦級激光光斑,也可根據不同功率激光光斑測試需求,提供可選的衰減方案,無需準備其他配件即可快速測量。

     

    4. 軟件自主開發,可提供底層通訊協議.

     

    5. 高性價比,可代替進口激光光束質量分析儀,實現激光光斑檢測及測試應用.

     

    光束光斑分析儀產品光譜覆蓋范圍:

    需求定制:可為客戶定制不同需求的光斑分析儀,滿足不同的激光光束直徑和激光功率測試需求。