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Beamfiler激光光斑光束質量分析儀技術參數-圖片-應用-報價

Beamfiler激光光斑光束質量分析儀技術參數-圖片-應用-報價

產品簡介:Beamfiler光束質量分析儀裝置一體化設計,配套衰減方案設計,支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器,固體激光器,光纖激光器,超快激光器,激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣,性價比高,得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。
  • 技術數據
  • 應用白皮書

    產品圖片:

     

     

    產品簡介

    Beamfiler光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案,并支持多應用開發。通過光束分析裝置一體化設計,配套衰減方案設計,最小可測量直徑40μm光斑,支持實時曝光及增益調節。該系統可以對連續可見激光光斑進行采樣,分析得到激光光斑中心,半徑,橢圓比等,并對光強能量場進行二維和三維顯示。可廣泛用于需要對激光光斑形狀進行檢測得場合,如激光生產,維護以及激光應用。也常用于光學器件質量檢查,激光腔鏡調整,外光路準直,光纖對準耦合分析等。

     

    軟件界面


     

    產品硬件參數

    項目 參數
    型號 beamfiler-V001
    靶面尺寸 1/1.8"
    光譜響應 190-1100nm
    感光尺寸 7.1mm W x 5.4mm H
    有效像素 2048 x 1536
    像素尺寸 3.45μm x 3.45μm
    幀速率 6-12幀@2048 x 1536有效像素
    最小系統動態范圍 47dB
    接口

    USB 3.0

    尺寸和CMOS凹進量

    44 mm x 35 mm x 19.5 mm

    CMOS凹進量:表面下12.5mm

    標準軟件 Beamfiler2022

     

     

    產品軟件參數:

     

    軟件

    XP, Vista, Win7, Win8 (32/64 位)Windows系統

    多開 (同時打開多個程序實例)

    支持 USB/火線/CameraLink 相機

    CWMode/脈沖模式 (軟件觸發)

    實時模式 (實時數據) 和保存模式 (存儲數據) 可同時使用

     

    標準功能

    ROI 調整 (質心、峰值、光束寬度)

    計算 (閾值級別、最高像素)

    縮放功能 (所有可視化和測量窗口)

    相機設置 (曝光時間、增益)

    曝光自動, 增益自動

    觸發設置 (延時)

     

    導出

    數據 (CSV)

    圖像 (BMP /PNG)

    灰度圖像8位

    視頻 (AVI)

    視頻捕捉/回放

    生成報告

     

    窗口

    2維視圖

    3維視圖

    XY截面視圖

    多光斑分析

    光束參數 (光束寬度、質心、橢圓率等)

     

    數據監測

    峰值、質心 X/Y、光束寬度:D4、DPK、DT

     

    導入

    數據 (CSV)

    灰度圖像8位

     

    組成部件

    傳感器,配備數據連接線

     

    Beamfiler操作軟件

    可選衰減配件

     

    功能特點:

    1,高速度、高分辨率顯示2D和3D偽彩色光束輪廓
    2,支持Windows XP Service Pack 3或更高版本的操作系統
    3,支持控制相機的曝光、增益和分辨率
    4,實時進行光斑的偽彩色2D顯示、長短軸的高斯曲線顯示
    5,支持2D模式下的連續縮放
    6,測量光斑的長短軸、橢圓率、旋轉角等參數
    7,支持參數的統計分析
    8,記錄和導出參數,或者生成報告
    9,讀取光斑圖片并測量參數
    10,多選擇的圖片保存功能
    11,支持USB3.0接口
    12,可定制拓展功能