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SWIR系列激光光束光斑分析儀技術參數-圖片-應用-報價

SWIR系列激光光束光斑分析儀技術參數-圖片-應用-報價

產品簡介：松盛光電自主研發的光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。
  • 技術數據
  • 應用白皮書

    通信用光束質量分析儀

     

    為了滿足通訊領域中廣大客戶的需求，并提高客戶的工作效率和降低客戶的生產成本，設計專門用于通訊領域的光束質量分析儀，主要用于測量850nm，1310nm和1550nm等通訊波長的激光光束的光斑大小、橢圓度，實時監測光束形狀以及穩定性，非常適合于通信用激光光源，高速光纖器件的光束定位和對準。

    激光光束光斑分析儀SWIR系列產品圖片

    激光光束光斑分析儀SWIR系列產品特點：

     

    1.波長響應范圍400nm~1700nm

     

    2. 實時監測光束形狀以及變化

     

    3.分辨率高，高準確度

     

    4.兼容測量連續以及脈沖激光器

     

    激光光束光斑分析儀SWIR系列典型應用：

     

    1.激光束輪廓分析

     

    2.電信設備制造控制

     

    3.電信測試和檢驗

     

    4.光纖檢查和光譜學

     

    5.產品質量監控

     

    激光光束光斑分析儀SWIR系列產品型號：

    相機型號 波長 像素（μm） 分辨率 靶面尺寸（mm） 光斑檢測大小
    Px Py Dx Dy MIN（μm） MAX（mm）
    BFNS0503U 400nm-1700nm 5 656 520 3.3 2.6 50.0 2.2
    BFNS0505U 400nm-1700nm 5 1280 1024 6.4 5.1 50.0 4.4
    BFNS1515G 400nm-2000nm 15 1280 1024 19.2 15.4 150.0 13.1
    BFS0303U 1440nm-1605nm 3.75 1296 964 4.9 3.6 100.0 3.1
    BFS2005G 900nm-1700nm 20 320 256 6.4 5.1 200.0 4.4
    BFS2010G 900nm-1700nm 20 640 512 12.8 10.2 200.0 8.7

    此系列光斑質量分析儀，在使用過程中始終注意損傷閾值的范圍，保持在飽和閾值度以下，以確保安全的功率水平，光斑分析儀的傳感器如果損壞更換費用特別高。

    光束光斑分析儀簡介

     

    松盛光電自主研發的光束光斑分析儀可實現激光光斑檢測及測試應用。為客戶提供定制光束質量分析一體化設計解決方案，并支持多應用開發。光束質量分析儀裝置一體化設計，配套衰減方案設計，支持實時曝光及增益調節。適用半導體激光器，固體激光器，光纖激光器，超快激光器，激光測距等領域。目前已作為成熟產品在市場推廣，性價比很高，得到大量客戶認同。現公司研發部可根據客戶不同需求進行模塊化定制。

     

    光束光斑分析儀產品特點：

     

    1. 可選超寬光譜多波長系列產品，覆蓋紫外到長波紅外波長范圍。

     

    2. 較寬的光斑直徑測量范圍：光斑直徑范圍可滿足目前市場大部分的光斑產品范圍，部分產品支持更小光斑拓展。

     

    3. 光斑分析儀一體化設計，配套衰減方案設計：設備自帶吸收衰減裝置，測低功率的毫瓦級激光光斑，也可根據不同功率激光光斑測試需求，提供可選的衰減方案，無需準備其他配件即可快速測量。

     

    4. 軟件自主開發，可提供底層通訊協議.

     

    5. 高性價比，可代替進口激光光束質量分析儀，實現激光光斑檢測及測試應用.

     

    光束光斑分析儀產品光譜覆蓋范圍：

    需求定制：可為客戶定制不同需求的光斑分析儀，滿足不同的激光光束直徑和激光功率測試需求。